2010年8月 – 艾福尔查理测试机械有限公司（简称ECT）将在即将举行的SEMICON台湾展的840号展位展出其ZIP®“扁平”技术Pogo®探针产品系列的最新成员。展会定于2010年9月8-10日在台湾台北市台北世贸中心举行。

 

ECT探针事业部将重点展示其已扩充的可用间距系列，中心间距从0.8mm到0.2mm。ECT也将重点展出高性能Bantam®产品——适于最苛刻测试应用的探针之选；适于更高相通兼容C-res标准的Mini-Mite™；以及适于各种双端Pogo技术应用的CSP系列，该类产品可向下兼容许多同类测试探针。ECT探针事业部人员将现场演示公司的最新科技，并回答有关如下系列新产品的客户问询：

 

ZIP SCRUB™ ——ZIP SCRUB探针在焊膏转移造成频繁清洗和维护周期的无铅电镀阵列及外围设备上，特别采用精确“擦洗-活动”垫球接触装置。

 

ZIP KELVIN ——ECT的ZIP KELVIN系列尤其适于阵列或外围设备上的压敏器件测试，这种测试要求电阻测定值低于1欧姆，常见于导通电阻和大功率应用。

 

ZIP SUPER SHORT ——SUPER SHORT的设计适于0.5nH的低阻抗高频测试。

 

ZIP LongTravel ——ZIP LongTravel的OAL可达6.7mm，特别适于存在平面度和顺应性问题的接触性大型设备和条样测试。

 

Z8 ——Z8适于局部处理加厚应用，在“局部处理加厚点”可置换顺应针中融合了标准ZIP产品性能。

 

ZIP专利2-D设计的特点是采用独特制造工艺加工的二维接触面，拥有卓越性能和成本优势。ZIP系列产品的设计符合当今苛刻测试标准和经济要求。


关于ECT公司

ECT（Everett Charles Technologies Corporation简称ECT),是全球著名的电子元器件及电路板组装设备供应商，在世界电子设备生产商中享有很高的声誉。本公司的母公司Dover是纽约股票交易所上市500家大公司之一，ECT公司在全球设有分支机构，公司总部设在美国。从1965年建立至今，ECT成功开发了一系列符合工业标准的产品，包括标牌为POGO的探针，Valugrid测试治具，光板测试系统以及半导体测试产品等，并拥有了100多项专利。www.ectinfo.com